English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 2737/2828
Visitors : 193423      Online Users : 26
RC Version 4.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Adv. Search
LoginUploadHelpAboutAdminister

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.stu.edu.tw:80/ir/handle/310903100/3048

Title: 允許非瞬間退化及保存技術投資之退化性存貨模式
A non-instantaneous deteriorating inventory model with preservation technology investment
Authors: 張桂誌
Kuei-Chih Chang 張桂誌
Contributors: 經營管理研究所
何炎殷
Keywords: 存貨、非瞬間退化性、保存技術、部分欠撥
Inventory, Non-instantaneous deterioration, Preservation technology invest-ment, Partial backlogging
Date: 2012
Issue Date: 2012-12-11 15:35:44 (UTC+8)
Publisher: 高雄市:[樹德科技大學經營管理研究所]
Abstract: 傳統經濟訂購量模式假設產品退化率為一不可控制之外生變數。事實上,廠商是可以藉由改善儲存設備或增加保存技術的投資來降低產品退化率。本研究提出一個在考量欠撥率與退化率隨時間變動之非瞬間退化性存貨模型。同時,也將投資保存技術成本納入模式中考慮作為決策變數。接著,利用一般化分數規劃性質證明單位時間利潤函數為一擬凹函數,並證明在不同情況下具有唯一最佳解。最後,將利用數值範例說明求解過程及驗證模式之合理性及實用性。同時,本研究將對重要的參數進行敏感度分析,以瞭解各參數變動對最適解的影響。
Considering an inventory system with a non-instantaneous deteriorating item, our ob- jective is to study the effect of preservation technology investment on inventory de- cisions. The generalized productivity of invested capital and deterioration and time-depend partial backlogging rates are used to model the inventory system. The basic results of fractional programming are employed to prove the uniqueness of the global maximum for each case. Further, we use a couple of numerical examples to illustrate the results and conclude the paper with suggestions for possible future
researches.
Appears in Collections:[經營管理研究所] 博碩士論文

Files in This Item:

File Description SizeFormat
index.html0KbHTML205View/Open


All items in STUAIR are protected by copyright, with all rights reserved.

 


無標題文件

著作權政策宣告:

1.

本網站之數位內容為樹德科技大學所收錄之機構典藏,無償提供學術研究與公眾教育等公益性使用,惟仍請適度,合理使用本網站之內容,以尊重著作權人之權益。商業上之利用,則請先取得著作權人之授權。
 
2. 本網站之製作,已盡力防止侵害著作權人之權益,如仍發現本網站之數位內容有侵害著作權人權益情事者,請權利人通知本校護人員(clairhsu@stu.edu.tw),維護人員將立即採取移除該數位著作等補救措施。
 
DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback